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Novas técnicas de microscopia eletrônica são tema de palestra nesta sexta-feira, no Centro de Estudos do Instituto Oswaldo Cruz


01/08/2012

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Na próxima sexta-feira (03/08), o Centro de Estudos do Instituto Oswaldo Cruz (IOC/Fiocruz) realiza a palestra ‘Correlative Microscopy’, que será ministrada por Jean M. Rietdorf, atual chefe do laboratório da Zeiss, um espaço com plataformas disponíveis em diversas técnicas de microscopia. No encontro, Rietdorf falará sobre as novas técnicas de correlação de microscopia eletrônica com microscopia de fluorescência, além de outros métodos disponíveis no laboratório.

Os encontros do  Centro de Estudos acontecem às 10h, no Aud. Emmanuel Dias, Pav. Arthur Neiva (Av. Brasil, 4.365 – Manguinhos- Rio de Janeiro- RJ). A entrada é gratuita.

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